保定众达电气有限公司
销售部1：0312-3110565
销售部2：15512283060
传真号： 0312-3116226
技术部： 18630210808
网址：www.weijixiaoxie.cn
E-mail:544509344@qq.com
高温储存试验
发布人：管理员 发布时间：2014-12-16
实验时，被试器件在没有包装及不工作状态下进行。将器件置于温度为TH高温箱中，连续存放到规定时间，然后取出置于实验室的环境温度下恢复。
高低温循环实验
试验时被试器件在没有包装及不工作状态下进行。
将器件先置于温度为T1的低温箱中，存放到规定时间t1，然后取出置于实验室内环境温度下保持时间为t2，再放到温度为TH的高温箱中存放到规定时间t3，再取出置于实验室环境温度下保持时间t2，此即为一次循环，循环次数为3次。
TL=-30±3°C
TH：金属封装硅管125±3°C
塑料封装硅管100±3°C
锗管 70±3°C
t1=t3=1小时
t2不小于2分钟，不大于3分钟。
高低温循环实验
试验时被试器件在没有包装及不工作状态下进行。
将器件先置于温度为T1的低温箱中，存放到规定时间t1，然后取出置于实验室内环境温度下保持时间为t2，再放到温度为TH的高温箱中存放到规定时间t3，再取出置于实验室环境温度下保持时间t2，此即为一次循环，循环次数为3次。
TL=-30±3°C
TH：金属封装硅管125±3°C
塑料封装硅管100±3°C
锗管 70±3°C
t1=t3=1小时
t2不小于2分钟，不大于3分钟。
上一篇：微机消谐试验
下一篇：器件筛选品种
