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新闻动态
中小规模集成电路高温功率老化
发布人:管理员   发布时间:2015-1-28

被试器件置于温度为TH4高温箱中通电,加信号f=3-30KC和额定功率额至到规定时间tg止,然后切除电源取出器件在环境温度下恢复。
TH4=85±3°C
tg=48小时
在连续通电过程中每间隔6小时检测一次微机消谐器件的功能及主要电参数,剔除不符合要求的器件。


 

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