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常温功率电老化微机消谐
发布人：管理员 发布时间：2015-3-4
被⑩器件置于试验室环境温度下，通电加以额定功率到规定时间t14，然后切除电源老化完毕。t14=24小时
在连续通电过程中，每间隔6小时检测一次器件的主要电参数及时剔除不符合要求的器件。
测试
器件经3.4.1款3.4.2款试验后恢复1小时，对所有被试器件按设计要求或该型号的参数规范表要求进行常规电参数测试剔除不符合要求的器件。
半导体发光器件筛选条件
高温存放试验
试验时被试器件在没有包装及不工作状态下进行，将器件置于温度为TH7高温箱中，连续存放到规定时间t15，然后取出置于试验室内的环境温度下恢复。TH7=85±3°T15=48小时
试验时温度箱其所存器件的总体积不得大于高温箱容积的五分之一。
在连续通电过程中，每间隔6小时检测一次器件的主要电参数及时剔除不符合要求的器件。
测试
器件经3.4.1款3.4.2款试验后恢复1小时，对所有被试器件按设计要求或该型号的参数规范表要求进行常规电参数测试剔除不符合要求的器件。
半导体发光器件筛选条件
高温存放试验
试验时被试器件在没有包装及不工作状态下进行，将器件置于温度为TH7高温箱中，连续存放到规定时间t15，然后取出置于试验室内的环境温度下恢复。TH7=85±3°T15=48小时
试验时温度箱其所存器件的总体积不得大于高温箱容积的五分之一。
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